Silicium, das mit Hilfe von EDX nachgewiesen wurde. – Bild: Thermo Fisher Scientific

Silicium, das mit Hilfe von EDX nachgewiesen wurde, deutet auf keramische Eigenschaften der Rußpartikel hin. Daher entstanden die Rußpartikel nicht bei der chemischen Zersetzung der Öle bzw. beim Abrieb an den Bestandteilen der Bearbeitungsmaschine. Ohne ein REM mit EDX wäre diese Analyse nicht möglich gewesen. – Bild: Thermo Fisher Scientific

Hersteller, die verschiedenste Werkstoffe auf Mikroebene bearbeiten, entscheiden sich immer häufiger für Rasterelektronenmikroskope (REMs) für die Beurteilung der Qualität der fertigen Produkte und für die Partikelanalyse von Verunreinigungen, die während des Herstellungsprozesses auftreten können. Je nach den physikalischen und chemischen Eigenschaften dieser Verunreinigungen lassen sich durch die Wartung der teuren Mikrobearbeitungsmaschinen im Laufe der Zeit Kosteneinsparungen erzielen.

Kern Microtechnik, ein deutscher Hersteller von hochpräzisen mechanischen Bearbeitungsmaschinen, wollte seinen Kunden helfen, deren Fertigungskosten zu reduzieren, indem sie herausfinden, warum und wie Rußpartikel in den Bearbeitungsprozess von Keramik eindringen. Diese Partikel können die Geschwindigkeit und Präzision der Keramikbearbeitung beeinträchtigen und schließlich Schäden am Endprodukt verursachen.

Rußpartikel können auf verschiedene Weise in den Keramikherstellungsprozess getragen werden: durch infolge der Wärmeentwicklung der Bearbeitungsmaschine polymerisiertes Öl, durch beim Bohren entstehende Metallteile oder durch das bearbeitete Teil selbst. Durch die Untersuchung der Morphologie und der chemischen Zusammensetzung des Rußpartikels können die Hersteller die zugrundeliegende Ursache ermitteln und die erforderlichen Korrekturmaßnahmen wie die Wartung der Bearbeitungsmaschine oder die Anpassung der Bearbeitungsparameter ergreifen, um eine zufriedenstellende Qualität sicherzustellen.

Mithilfe des Thermo Scientific Phenom XL G2 Tisch REMs in Kombination mit einem Detektor für die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) kann Kern Microtechnik nun Partikelanalysen durchführen, um die Morphologie und Elementzusammensetzung der in den Keramikbearbeitungsprozess eindringenden Rußpartikel schnell zu ermitteln. Dank der intuitiven Benutzeroberfläche und der kurzen Zeitspanne zwischen dem Laden einer Probe bis zum Erhalt des Ergebnisses lässt sich in der Qualitätssicherung problemlos die chemische Zusammensetzung von Verunreinigungen ermitteln.

Die Anwender erhalten hochqualitative Bilder in weniger als einer Minute – erheblich schneller als bei anderen REM-Systemen. Dank seiner kleinen Bauweise beansprucht das Tisch-REM nur wenig Platz im Labor, so dass das Mikroskop genau dort aufgestellt werden kann, wo es im Labor oder an der Fertigungslinie für Echtzeitanalysen gebraucht wird.

Phenom XL G2 Tisch REM. – Bild: Thermo Fisher Scientific
Mit dem Phenom XL G2 Tisch REM erhalten die Anwender hochqualitative Bilder in weniger als einer Minute. – Bild: Thermo Fisher Scientific

Mit dem Phenom XL G2 Tisch REM hat Kern Microtechnik sich als Innovationsführer etabliert, indem das Unternehmen seinen Kunden geholfen hat, ihre hochpräzisen Bearbeitungsprozesse zu optimieren und Fertigungskosten zu senken. Das Phenom XL Tisch REM ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für den Qualitätssicherungsprozess und hilft den Herstellern, schnell Rückstands-/Partikelanalysen und -untersuchungen durchzuführen, um den Bearbeitungsprozess für viele Werkstoffarten zu verbessern.

Wenn Sie mehr über das Phenom XL G2 Tisch REM erfahren möchten, besuchen Sie bitte unsere Website.

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